Entwicklung von Defektengineeringprozessen in p-Typ Silizium zur Herstellung von hochohmigen n-in-p Siliziumdetektoren
| Akronym: | DeSiD | |
| Projektlaufzeit: | 01.04.2015 - 31.08.2017 | |
| Beschreibung: | Im Projekt wurde ein hochohmiger n-in-p Siliziumdetektor entwickelt, hergestellt und getestet. Dabei wurde aufbauend auf erfolgreich entwickeltem Defektengineering für n-Typ Silizium Prozesse für n-in-p Siliziumdetektoren entwickelt, die eine Erhöhung der Strahlenresistenz und damit der Detektorlebensdauer bewirken. Zudem wurden spezielle Detektordesigns zur Verwendung von p-Typ Silizium entwickelt und erprobt. | |
| Märkte: | Elektronik, Messtechnik | |
| Gefördert durch: | BMWI |  |
| Projektträger: | EuroNorm GmbH | |
| Förderkennzeichen: | MF140123 | |
| Kontakt: | Kontaktieren Sie uns zu diesem Projekt über unser ehemaliges Geschäftsfeld Silizium-Detektoren | |
« zurück zur Projektübersicht
