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Einsatzgebiete

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Mit Hilfe unserer verschiedenen gebündelten Analyseverfahren und kompetenten Wissenschaftlerinnen und Wissenschaftler können wir auf vielfältige Fragestellungen aus den unterschiedlichsten Anwendungsbereichen Antworten finden. Nachfolgend sind hier einige Beispiele aufgeführt. Sollten Sie darunter Ihr Anwendungsfeld nicht gefunden haben, zögern Sie nicht, uns zu kontaktieren. Wir beraten Sie gerne.

Halbleiter

  • Elementverteilungen ein-, zwei- und dreidimensional
  • Dotierprofile, Eindringtiefen und Konzentrationen von Dotierungen
  • Oberflächenverunreinigungen
  • Schichtfolgen
  • Diffusionslängen und -konstanten von Dotierungselementen für Simulationsaufgaben
  • Barriereschichten und deren Wirkung
  • Haftung von Bondungen (z.B. Silizium-Silizium-Waferbondung, hydrophil/hydrophob)
  • Fremdmusteranalyse
  • Oberflächendefekte
  • Verteilung mechanischer Spannungen im Halbleiterbauelement

Metalle

  • Analyse von Oberflächenbeschichtungen
  • Segregation innerhalb von Metallisierungsschichten
  • Zusammensetzung, Dicke und Abfolge von Schichten
  • Barriereschichten und deren Wirkung
  • Oberflächenverunreinigungen
  • Haftung von Klebungen, galvanischen Schichtabscheidungen und Lötungen
  • Restschichtanalyse

Gläser und Isolatoren

  • Oberflächenvergütungen (z.B. Linsen)
  • Oberflächenverunreinigungen
  • Alterung von Oberflächen
  • Diffusion von Netzwerkwandlern
  • Auslaugungsprozesse in Gläsern
  • Präzipitatbildung/ Kristallisierungsprozesse
  • Zusammensetzung und Schichtdicken von Isolatorschichtfolgen
  • Dekorations- und Schutzschichten, Haftvermittler, …
  • Delaminationen

Optik

  • Oberflächenverunreinigungen
  • Alterung von Oberflächen
  • Oberflächenvergütungen (z.B. Linsen)
  • Reflexions- und Antireflexionsschichten
  • Filterschichten (Bandpassfilter, UV-VIS-IR-Filter)
  • Delaminationen

Life Science

  • Oberflächenvergütungen
  • Oberflächenbeschaffenheit von Implantaten
  • Restschichtanalysen
  • Analyse von Rückständen & Partikeln
  • Zahnfluoridierung
  • Umweltschutz
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    • Waferproberlabor
    • Embedded Elektronik
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      • Rasterelektronenmikroskopie – REM
      • Energiedispersive Röntgenspektroskopie – EDX
      • Sekundärionen-Massenspektrometrie – SIMS
      • Raman-Spektroskopie
      • Focused Ion Beam – FIB
      • Scanning Infrared Reflection Examination – SIREX
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  • Prototyping & Kleinserien
Vom Design zum Prototyping.
Zuverlässig. Langzeitstabil. Präzise.

Konrad-Zuse-Str. 14
99099 Erfurt
Deutschland

Tel.: +49 361 663 1410
E-Mail: info@cismst.de

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