CiS
  • Forschungsinstitut
    • Profil
    • Zertifizierung
    • Netzwerk
    • Downloads
  • Kompetenzen
    • Technologien
    • Simulation & Design
    • Prozessentwicklung
    • Waferprozessierung
    • Aufbau- & Verbindungstechnik
    • Messtechnik & Analytik
    • CAK – CiS Analytik Kompetenzzentrum
    • Prototyping & Kleinserien
  • F&E
    • Mikrosensoren für die Welt von morgen
    • MEMS
    • MOEMS
    • Öffentliche Forschung
    • Förderung
    • Industrieprojekte
  • Märkte
    • Anwendungen
    • Prozessmesstechnik
    • Energie
    • Mobility
    • Gesundheit
    • Klima
    • Infrarotsensorik
  • Karriere
    • Arbeiten im Forschungsumfeld
    • Mitarbeitende
    • Studierende
    • Ausbildung
    • Datenschutz bei Bewerbungen
  • Aktuelles
    • News
    • Termine
    • Publikationen & Konferenzen
  • CiS e.V.
    • Verein
    • Satzung (PDF)
    • Vorstand
    • Kontakt zum CiS e.V.
    • Datenschutzhinweise CiS e.V.
  • Kontakt
    • Ansprechpartner
    • Anfahrt
    • Impressum
    • Datenschutz
  • English
  • Click to open the search input field Click to open the search input field Suche
  • Menü Menü

Archiv für die Kategorie: MOEMS

Sie sind hier: Startseite1 / MOEMS

Optoflutronics – Mikrofluidischer Fluoreszenz- und Absorptionssensor

4. Oktober 2012/in MOEMS

Das CiS Forschungsinstitut führt die Entwicklung eines Mikro-Fluoreszenz-Sensors an. In einem Mehrkanal-Sensor finden die optische Anregung mit verschiedenen Lichtwellenlängen sowie die Messung von Transmissions- und Fluoreszenzsignalen statt

Weiterlesen
https://www.cismst.de/wp-content/uploads/news-2012-10-04-home.jpg 90 120 CiS https://www.cismst.de/wp-content/uploads/logo-trans.png CiS2012-10-04 09:38:002021-02-23 09:43:12Optoflutronics – Mikrofluidischer Fluoreszenz- und Absorptionssensor

Berührungslose, interferometrische Abstandsmessung

20. Mai 2012/in AVT, MOEMS

Technologien aus der Mikrosystemtechnik und der Mikrooptik bilden die Grundlagen für die erfolgreiche Miniaturisierung eines neuen, interferometrischen Abstandsmesssystems der TETRA GmbH aus Ilmenau. Das Kernstück, bestehend aus einem Michelsen-Laserinterferometer und einem optischen Siliziumdetektor, entwickelte der Mechatronikspezialist gemeinsam mit dem Applikationszentrum Mikrooptische Systeme am CiS Forschungsinstitut

Weiterlesen
https://www.cismst.de/wp-content/uploads/news-2012-05-20-home.jpg 90 120 CiS https://www.cismst.de/wp-content/uploads/logo-trans.png CiS2012-05-20 12:32:002021-02-23 12:40:50Berührungslose, interferometrische Abstandsmessung

3D-Silizium-Fotodiode mit PigTail

18. Mai 2012/in AVT, MOEMS, Waferprozessierung

Die 3D-Strukturierung von Silizium gewinnt für optische und opto-elektronische Anwendungen der Mikrosystemtechnik immer mehr an Bedeutung. Für die zuverlässige und verlustarme Ankopplung von Lichtleitfasern an Fotodioden entwickelte das CiS Forschungsinstitut neue Mikrostrukturierungstechnologien zur Herstellung von Kavitäten mit Flankenwinkeln von 45° und 90° und hoher optischer Absorption der sensitiven Einkoppelfläche

Weiterlesen
https://www.cismst.de/wp-content/uploads/news-2012-05-18-home.jpg 90 120 CiS https://www.cismst.de/wp-content/uploads/logo-trans.png CiS2012-05-18 12:55:002021-02-23 13:22:523D-Silizium-Fotodiode mit PigTail

Power aus Licht – Feldbuskompatible Sensoren für extreme Einsatzbedingungen

17. Mai 2012/in MOEMS

Für den Einsatz von Sensorsystemen unter Extrembedingungen, wie in EMV-kritischen oder Ex-geschützten Bereichen verbietet sich häufig eine galvanische Verbindung der Sensoren für die Energiezuführung bzw. Signalübertragung. Gemeinsam mit Industriepartnern entwickelte dafür das applikationszentrum mikrooptische systeme des CiS Forschungsinstituts eine zu vorhandenen Feldbussystemen kompatible Lösung

Weiterlesen
https://www.cismst.de/wp-content/uploads/news-2012-05-17-home.jpg 90 120 CiS https://www.cismst.de/wp-content/uploads/logo-trans.png CiS2012-05-17 13:10:002021-02-23 13:19:52Power aus Licht – Feldbuskompatible Sensoren für extreme Einsatzbedingungen

Optoelektronischer Sensor sorgt für zuverlässige Kältetechnik

13. Mai 2012/in AVT, MEMS, MOEMS

Auf Basis spezieller Chip- und Montagetechnologien aus dem CiS Forschungsinstitut hat die ILK Institut für Luft- und Kältetechnik gGmbH, Dresden ein kostengünstiges Multiparameter-System zur kontinuierlichen Überwachung von Feuchte, Blasenbildung, Temperatur und Füllstand in Kältemittelanlagen entwickelt.

Weiterlesen
https://www.cismst.de/wp-content/uploads/news-2012-05-13-home.jpg 90 120 CiS https://www.cismst.de/wp-content/uploads/logo-trans.png CiS2012-05-13 13:54:002021-02-23 14:00:51Optoelektronischer Sensor sorgt für zuverlässige Kältetechnik
Seite 17 von 17«‹151617
  • News
  • Termine
  • Publikationen & Konferenzen
  • Neue Montagetechnologien von IR-Komponenten auf Basis polymerfreier Fügetechnologien

    29. Juli 2025
  • Entwicklung eines Hochdrucksensors bis 300 MPa mit frontbündigem Medienanschluss

    23. Juli 2025
  • Projektabschluss FIRE: Flinke Infrarot-Emitter als monolithisch integrierte Arrays

    15. Juli 2025
  • Projektstart Thermistor-HFS – Entwicklung eines neuartigen Wärmeflusssensors

    9. Juli 2025
  • Projektabschluss Optimization of Thermal Behavior (OTB)

    2. Juli 2025

Kategorien

  • Analytik (21)
  • Automotive (11)
  • AVT (61)
  • CiS allgemein (29)
  • Digitalisierung (1)
  • Druck (62)
  • Energie (19)
  • Hochtemperatur (1)
  • Invest (1)
  • IR (36)
  • Jobs (4)
  • Kraft (45)
  • Medizintechnik (84)
  • MEMS (167)
  • Messtechnik (23)
  • MOEMS (165)
  • Personalie (9)
  • Photonik (21)
  • Politik (23)
  • Prozessentwicklung (5)
  • Quanten (35)
  • Siliziumdetektoren (21)
  • Simulation & Design (23)
  • UV (28)
  • Veranstaltungen (196)
  • Waferprozessierung (16)
  • Wasserstoff (14)

Archiv

Vom Design zum Prototyping.
Zuverlässig. Langzeitstabil. Präzise.

Konrad-Zuse-Str. 14
99099 Erfurt
Deutschland

Tel.: +49 361 663 1410
E-Mail: info@cismst.de

© 2025 CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH
  • Startseite
  • English
  • Impressum
  • Datenschutz
  • AGB
  • Sitemap
Nach oben scrollen Nach oben scrollen Nach oben scrollen