Einen Übersichtsvortrag zu Verarbeitungsprozesse von Silizium („Silicon Processing Techniques“) hält Prof. Thomas Ortlepp im Rahmen des „Beam Telescopes and Test Beams Workshop“ am 8. Februar um 13:00 Uhr. Im Online-Vortrag wird erläutert, welche Arten von Verarbeitungsprozessen für Silizium existieren und wie sie zur Herstellung von Silizium-Strahlungsdetektoren angewendet werden können
Erhöhung der Quanteneffizienz von Siliziumdioden in Rasterelektronenmikroskopen – Im Forschungsprojekt SiekeV wird an der Verbesserung von Rasterelektronenmikroskopen zur Analyse oberflächennaher Strukturen gearbeitet. Durch die Detektion niederenergetischer Elektronen sind sehr oberflächensensitive REM-Aufnahmen möglich
Am Mittwoch, den 19. Februar trägt CiS auf dem 15. „Workshop on Advanced Silicon Radiation Detectors“ zum Thema „Simulation and Technology Study of Shallow Doping Profiles“ vor
Kupfer bietet als Basismetallisierung eine Vielfalt an Metallisierungsmöglichkeiten, die zur Prozessoptimierung des Thermokompressionsverfahrens notwendig sind
Das CiS ist auf der Sensor China 2019, Shanghai (2.-4. September 2019) als Aussteller auf dem Gemeinschaftsstand der LEG Thüringen vertreten
Auf der Sensor+Test 2019 zeigt das CiS Forschungsinstitut aktuelle Entwicklungen und Forschungsergebnisse aus den Geschäftsfeldern MEMS, MOEMS und Siliziumdetektoren für Anwendungen in Industrie, Medizin- und Umwelttechnik
Anspruchsvolle AVT für Time-of-Flight Kamera-Module, doppelseitige Mikrostreifen-Detektoren und weitere aktuelle Entwicklungsergebnisse zeigt das CiS auf der HMI 2019 im Doppelpack: am Thüringen Gemeinschaftsstand der LEG in Halle 4, Stand F34 und am Stand des Forschungs- und Technologieverbund Thüringen e.V. (FTVT) in Halle 2, Stand A27
Mit dem Workshop FUTURE of Silicon Detector Technologies wurden wieder spannende Forschungs- und Entwicklungsaufgaben im Bereich der Hochenergiephysik und der dazugehörigen Geräteentwicklung erörtert. In dem zweitägigen Workshop standen Themen wie Detektoren für die Hochenergie- und Schwerionenphysik sowie Anforderungen und Lösungen für eine Vielzahl von Anwendungsbereichen im Mittelpunkt.
Das CiS veranstaltet am 3. und 4. Dezember 2018 in Erfurt einen thematischen Workshop zur Zukunft der Silizium-Detektortechnologien FuTuRe II. Aufgrund von Upgrades bestehender und dem Bau neuer HEP-Experimente steigen die Anforderungen an Detektoren und Detektorsysteme kontinuierlich; wir möchten die Gelegenheit nutzen, um über die aktuellen Fähigkeiten sowie die laufende Forschung und Entwicklung hier am CiS zu berichten.
Bereits zum 3. Male richtete der internationale Workshop „Future of Silicon Detector Technologies“ sein Augenmerk auf Technologien und Geräte für die Entwicklung und Herstellung von Strahlungsdetektoren. Im Fokus standen auch zukünftige Forschungsschwerpunkte, um Sensoren mit extrem hoher Strahlenhärte langzeitstabil und kostengünstig herstellen zu können. Gerade die neuen Experimente am CERN und bei der Gesellschaft für Schwerionenforschung im Darmstadt erfordern neben weiteren technischen Parametern diese Strahlenhärte
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