Am 8. Februar um 13:00 Uhr wird Prof. Thomas Ortlepp einen Übersichtsvortrag zu Verarbeitungsprozesse von Silizium („Silicon Processing Techniques“) im Rahmen des „Beam Telescopes and Test Beams Workshop“ halten. Erläutert werden dabei welche Arten von Verarbeitungsprozessen für Silizium existieren und wie sie zur Herstellung von Silizium-Strahlungsdetektoren angewendet werden können. Ebenso werden die wichtigsten Schritte der Prozessierung eines einfachen planaren Strahlungsdetektors diskutiert und Unterschiede zu herkömmlichen, industriellen CMOS-Prozessen aufgezeigt.
Die bereits 9. Auflage des Workshops findet online an den Nachmittagen des 8. bis 10. Februar 2021 statt und deckt Themen im Zusammenhang mit Prüfstrahlen für Detektorstudien in Tracking-Detektoren, Kalorimetrie und darüber hinaus ab. Der Workshop spricht sowohl Experten als auch Neueinsteiger aus verschiedenen Bereichen an.
Weitere Infos zum Workshop: https://indico.cern.ch/event/945675/
