CiS
  • Forschungsinstitut
    • Profil
    • Zertifizierung
    • Netzwerk
    • Downloads
  • Kompetenzen
    • Technologien
    • Simulation & Design
    • Prozessentwicklung
    • Waferprozessierung
    • Aufbau- & Verbindungstechnik
    • Messtechnik & Analytik
    • CAK – CiS Analytik Kompetenzzentrum
    • Prototyping & Kleinserien
  • F&E
    • Mikrosensoren für die Welt von morgen
    • MEMS
    • MOEMS
    • Öffentliche Forschung
    • Förderung
    • Industrieprojekte
  • Märkte
    • Anwendungen
    • Prozessmesstechnik
    • Energie
    • Mobility
    • Gesundheit
    • Klima
    • Infrarotsensorik
  • Karriere
    • Arbeiten im Forschungsumfeld
    • Mitarbeitende
    • Studierende
    • Ausbildung
    • Datenschutz bei Bewerbungen
  • Aktuelles
    • News
    • Termine
    • Publikationen & Konferenzen
  • CiS e.V.
    • Verein
    • Satzung (PDF)
    • Vorstand
    • Kontakt zum CiS e.V.
    • Datenschutzhinweise CiS e.V.
  • Kontakt
    • Ansprechpartner
    • Anfahrt
    • Impressum
    • Datenschutz
  • English
  • Click to open the search input field Click to open the search input field Suche
  • Menü Menü

Schlagwortarchiv für: DefEin

Sie sind hier: Startseite1 / DefEin

Beiträge

Projektabschluss: DefEin – Si-Detektoren mit flachem Eintrittsfenster

4. November 2022/in Messtechnik, UV

Im erfolgreich abgeschlossenen Projekt DefEin wurden Dotiertechnologien entwickelt, die eine hohe Energieauflösung von aus Silizium bestehenden Strahlungssensoren ermöglichen, indem die hochdotierten Gebiete auf der Eintrittsseite der zu detektierenden Strahlung möglichst flach gehalten werden.

Weiterlesen
https://www.cismst.de/wp-content/uploads/news-2022-11-04-home.jpg 90 120 CiS https://www.cismst.de/wp-content/uploads/logo-trans.png CiS2022-11-04 14:12:482022-11-04 14:15:23Projektabschluss: DefEin – Si-Detektoren mit flachem Eintrittsfenster
  • News
  • Termine
  • Publikationen & Konferenzen
  • Karriere im Hightech-Bereich – CiS Forschungsinstitut auf der Thüringer Jobmesse

    13. Juni 2025
  • Messepremiere auf der EPHJ 2025 in Genf

    2. Juni 2025
  • Mikrosensorik mit Praxisbezug – Medizintechnik-Fachschaften besuchen das Forschungsinstitut

    30. Mai 2025
  • Wirtschaftsstaatssekretär Mario Suckert besucht das CiS Forschungsinstitut

    21. Mai 2025
  • Freezing-out-Effekt – Vortrag auf der microTEC Clusterkonferenz 2025

    19. Mai 2025

Kategorien

  • Analytik (20)
  • Automotive (11)
  • AVT (59)
  • CiS allgemein (29)
  • Digitalisierung (1)
  • Druck (60)
  • Energie (19)
  • Hochtemperatur (1)
  • Invest (1)
  • IR (34)
  • Jobs (4)
  • Kraft (45)
  • Medizintechnik (84)
  • MEMS (164)
  • Messtechnik (23)
  • MOEMS (162)
  • Personalie (9)
  • Photonik (21)
  • Politik (23)
  • Prozessentwicklung (5)
  • Quanten (34)
  • Siliziumdetektoren (21)
  • Simulation & Design (22)
  • UV (28)
  • Veranstaltungen (195)
  • Waferprozessierung (16)
  • Wasserstoff (14)

Archiv

Vom Design zum Prototyping.
Zuverlässig. Langzeitstabil. Präzise.

Konrad-Zuse-Str. 14
99099 Erfurt
Deutschland

Tel.: +49 361 663 1410
E-Mail: info@cismst.de

© 2025 CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH
  • Startseite
  • English
  • Impressum
  • Datenschutz
  • AGB
  • Sitemap
Nach oben scrollen Nach oben scrollen Nach oben scrollen