Machine Learning Elektromigrationsparameter (MEL)
Das aktuelle Forschungsprojekt Machine Learning Elektromigrationsparameter (MEL) soll die Grundlagen für neue Softwaretools zur Bestimmung und Optimierung von Materialen in Bezug auf Elektromigration schaffen.
Dieser Effekt limitiert Lebensdauer und Langzeitstabilität von Halbleiterbauelementen in der Mikrosensorik, Leistungselektronik und integrierten Schaltungen. Ein besseres Verständnis der physikalisch-chemischen Prozesse ebnet den Weg zu neuen, verbesserten Entwicklungen
