Dr. Eng. Masayuki Fukuzawa vom Kyoto Institute of Technology aus Japan im CiS
Dr. Eng. Masayuki Fukuzawa vom Kyoto Institute of Technology aus Japan stellte seine Forschungsarbeiten zum Thema „Residual strain imaging in semiconductor crystals“ am 26.07.2016 im CiS vor
MEMS-Design für hochstabile und hochgenaue Drucksensoren CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik kooperiert mit der TU Hamburg-Harburg
Forscher und Entwickler beider Einrichtungen bearbeiten gemeinsam ein Projekt, um mit einer multiphysikalischen Simulation eine größere Sicherheit bei der Entwicklung und Fertigung von anwendungsspezifischen piezoresistiven Drucksensoren zu erreichen
Gesundes Klima durch eine neuartige CO2-Detektion
Ein neues Innovations-Aktionsprojekt namens SMARTER-SI bietet europäischen Unternehmen eine neue Produktionsplattform für die effiziente Herstellung von innovativen und intelligenten Sensorkomponenten und Mikrosystemen in kleinen und mittleren Stückzahlen
CiS als Aussteller der Zuse-Tage
Die Institute der Zuse-Gemeinschaft präsentierten sich am 07. und 08. Juni 2016 erstmals gemeinsam in Berlin der Öffentlichkeit. Unter der Schirmherrschaft von Bundeswirtschaftsminister Sigmar Gabriel unter dem Motto „Forschung, die ankommt“, gewährten 60 Institute der Zuse-Gemeinschaft einen Einblick in ihre Forschungsaktivitäten
Mikrokondensationssensoren für den japanischen Markt – CiS schließt Vertriebsvereinbarung mit ESPEC Corp.
Die CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH gibt die Unterzeichnung einer Vertriebsvereinbarung mit der ESPEC Corp. zu Mikrokondensationssensoren für den japanischen Markt bekannt. Mit dieser Vereinbarung gewährt CiS das exklusive Recht zur Vermarktung und zum Verkauf von kundenspezifischen Mikrokondensationssensoren in Japan
Mit dünnen Pixel-Strahlungsdetektoren nahe am Kollisionspunkt
Das CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik hat großflächige Strahlungsdetektoren entwickelt, deren sensitiver Bereich bis auf die Dicke eines normalen Papierblattes abgedünnt ist. Bei der Prozessierung konnte auf die Verwendung von zusätzlichen Handling-Wafern, wie heute noch in der industriellen Fertigung gängige Praxis, verzichtet werden
Multikanal-Sensoren für den Nanoliterbereich
Einen Mehrkanal-Messkopf für Untersuchungen an Probenvolumina im Nanoliter-Bereich wird derzeit am CiS Forschungsinstitut im Rahmen des Europäischen Forschungsprojektes „SMARTER-SI“ (GA-Nr. 644596) gemeinsam mit internationalen Partnern entwickelt. Das Prinzip beruht auf der Fluoreszenz- und Absorptionsmessung an einem Array aus verschiedenen Enzym-Pixeln
Europäisches Netzwerk SMARTER-SI unterstützt Unternehmen bei der Fertigung smarter Systeme
Das Projekt SMARTER-SI bietet europaweit eine neuartige Fertigungsplattform an, auf der innovative und intelligente Sensorkomponenten und Mikrosysteme in kleinen und mittleren Stückzahlen kostengünstig gefertigt werden können. Rund 5,3 Millionen Euro Fördermittel fließen bis 2018 in den Aufbau und die Erprobung dieser Plattform
Betauungsfühler mit kalibriertem digitalem Ausgangssignal
Das CiS hat seine CCC®-Plattform erweitert und offeriert erstmalig Mikrokondensationssensoren mit einem kalibrierten digitalen Ausgangssignal.
Ziel ist es, kundenspezifische Entwicklungen (Kondensatmasse, Temperatur, Design, Aufbau- und Verbindungstechnik) effektiv zu unterstützen
Hochstabile Temperaturdioden mit Einpunktkalibrierung für den Temperaturbereich bis 220°C
Im CiS Forschungsinstitut wurden technologische Prozesse für Siliziumwafer entwickelt, mit denen eine reproduzierbare Empfindlichkeit dU/dT, also die Steigung der Spannung über der Temperatur erreicht werden konnte
