CiS
  • Forschungsinstitut
    • Profil
    • Zertifizierung
    • Netzwerk
    • Downloads
  • Kompetenzen
    • Technologien
    • Simulation & Design
    • Prozessentwicklung
    • Waferprozessierung
    • Aufbau- & Verbindungstechnik
    • Messtechnik & Analytik
    • CAK – CiS Analytik Kompetenzzentrum
    • Prototyping & Kleinserien
  • F&E
    • Mikrosensoren für die Welt von morgen
    • MEMS
    • MOEMS
    • Öffentliche Forschung
    • Förderung
    • Industrieprojekte
  • Märkte
    • Anwendungen
    • Prozessmesstechnik
    • Energie
    • Mobility
    • Gesundheit
    • Klima
    • Infrarotsensorik
  • Karriere
    • Arbeiten im Forschungsumfeld
    • Mitarbeitende
    • Studierende
    • Ausbildung
    • Datenschutz bei Bewerbungen
  • Aktuelles
    • News
    • Termine
    • Publikationen & Konferenzen
  • CiS e.V.
    • Verein
    • Satzung (PDF)
    • Vorstand
    • Kontakt zum CiS e.V.
    • Datenschutzhinweise CiS e.V.
  • Kontakt
    • Ansprechpartner
    • Anfahrt
    • Impressum
    • Datenschutz
  • English
  • Click to open the search input field Click to open the search input field Suche
  • Menü Menü

Archiv für die Kategorie: AVT

Sie sind hier: Startseite1 / AVT

3D-Silizium-Fotodiode mit PigTail

18. Mai 2012/in AVT, MOEMS, Waferprozessierung

Die 3D-Strukturierung von Silizium gewinnt für optische und opto-elektronische Anwendungen der Mikrosystemtechnik immer mehr an Bedeutung. Für die zuverlässige und verlustarme Ankopplung von Lichtleitfasern an Fotodioden entwickelte das CiS Forschungsinstitut neue Mikrostrukturierungstechnologien zur Herstellung von Kavitäten mit Flankenwinkeln von 45° und 90° und hoher optischer Absorption der sensitiven Einkoppelfläche

Weiterlesen
https://www.cismst.de/wp-content/uploads/news-2012-05-18-home.jpg 90 120 CiS https://www.cismst.de/wp-content/uploads/logo-trans.png CiS2012-05-18 12:55:002021-02-23 13:22:523D-Silizium-Fotodiode mit PigTail

Optoelektronischer Sensor sorgt für zuverlässige Kältetechnik

13. Mai 2012/in AVT, MEMS, MOEMS

Auf Basis spezieller Chip- und Montagetechnologien aus dem CiS Forschungsinstitut hat die ILK Institut für Luft- und Kältetechnik gGmbH, Dresden ein kostengünstiges Multiparameter-System zur kontinuierlichen Überwachung von Feuchte, Blasenbildung, Temperatur und Füllstand in Kältemittelanlagen entwickelt.

Weiterlesen
https://www.cismst.de/wp-content/uploads/news-2012-05-13-home.jpg 90 120 CiS https://www.cismst.de/wp-content/uploads/logo-trans.png CiS2012-05-13 13:54:002021-02-23 14:00:51Optoelektronischer Sensor sorgt für zuverlässige Kältetechnik
Seite 7 von 7«‹567
  • News
  • Termine
  • Publikationen & Konferenzen
  • Projektabschluss KTB: Komplexe Tools zur Bauelementesimulation

    9. Dezember 2025
  • 7. Silicon Science Award – Preisverleihung auf der Waferbond 2025

    4. Dezember 2025
  • Projektstart ZEBA: Zerstörungsfreie Bildauswertung durch KI-gestützte Bildgebung für die Ermittlung des Berstdruckes

    26. November 2025
  • Zukunftsmusik auf der 4th Sensor and Application Technology Conference im chinesischen Shenzhen

    18. November 2025
  • CiS Forschungsinstitut auf der COMPAMED 2025

    17. November 2025

Kategorien

  • Analytik (21)
  • Automotive (11)
  • AVT (62)
  • CiS allgemein (32)
  • Digitalisierung (1)
  • Druck (68)
  • Energie (19)
  • Hochtemperatur (1)
  • Invest (1)
  • IR (40)
  • Jobs (4)
  • Kraft (47)
  • Medizintechnik (84)
  • MEMS (175)
  • Messtechnik (23)
  • MOEMS (173)
  • Personalie (10)
  • Photonik (23)
  • Politik (24)
  • Prozessentwicklung (5)
  • Quanten (37)
  • Siliziumdetektoren (21)
  • Simulation & Design (25)
  • UV (28)
  • Veranstaltungen (208)
  • Waferprozessierung (16)
  • Wasserstoff (14)

Archiv

Vom Design zum Prototyping.
Zuverlässig. Langzeitstabil. Präzise.

Konrad-Zuse-Str. 14
99099 Erfurt
Deutschland

Tel.: +49 361 663 1410
E-Mail: info@cismst.de

© 2025 CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH
  • Startseite
  • English
  • Impressum
  • Datenschutz
  • AGB
  • Sitemap
Nach oben scrollen Nach oben scrollen Nach oben scrollen