Im abgeschlossenen Forschungsvorhaben IJP-IR wurden alternative Prozesse auf Basis der Inkjet-Technologie und galvanischer Abscheidung für die Herstellung von IR-Emittern untersucht. Der neue Prozess reduziert Lithographie- und Hochvakuum-Schritte auf ein Minimum und erweitert die Materialauswahl für CMOS-kompatible Systeme
Das neue ZIM-Projekt IR-Batch legt den Fokus auf die Entwicklung neuer Montagetechnologien von Infrarot- Komponenten auf Basis polymerfreier Fügetechnologien für den Einsatz bei hohen Temperaturen und extremen Umgebungsbedingungen. Das CiS Forschungsinstitut ist für die Technologienentwicklung verantwortlich
Von der zentralen Idee, mehrere kleine und damit schnelle aktive Flächen in einem Chip zu integrieren, konnten anfangs durch hybride Integration von einzelnen, sehr kleinen (1×1 mm²) Chips schließlich in Varianten von monolithisch integrierten Arrays überführt werden
Mit der International Superconductive Electronics Conference (ISEC) startete am Montag die alle zwei Jahre stattfindende wissenschaftliche Konferenz in Erfurt, welche weltweite Experten auf dem Gebiet der supraleitenden Elektronik in einem Forum zusammenbringt. Bis Donnerstag gastiert die internationale Veranstaltungsreihe im Radisson Blu Hotel Erfurt und deckt zentrale Zukunftsthemen ab, etwa Quantencomputer sowie energieeffiziente Elektronik, und bietet Forum für Innovationen in Wissenschaft und Industrie
Ab morgen wird das CiS Forschungsinstitut erstmalig auf der EPHJ, einer internationalen Fachmesse für Hochpräzision in Genf sein Portfolio vorstellen. Bis zum 6. Juni 2025 präsentieren wir am Stand J122 in den Hallen der Palexpo in Genf unsere siliziumbasierten Sensortechnologien und Kompetenzen im Bereich MEMS sowie MOEMS einem internationalen Fachpublikum
Beim Besuch von Studierenden der KOMET (Konferenz der Medizintechnik-Fachschaften aus dem deutschsprachigen Raum) am 26.05.2025 konnten diese einen kleinen Einblick in unsere faszinierende Welt der Mikrosensorik werfen. Geschäftsfeldleiter MEMS, Dr. Klaus Ettrich, stellte ein ausgewähltes Spektrum der Sensorentwicklung für medizinische Anwendungen vor. Für Begeisterung und Praxisnähe sorgte Dr. Bernd Hähnlein am Rasterelektronenmikroskop des CiS Analytik Kompetenzzentrums mit feinsten Strukturen, die für bloße Augen unsichtbar sind
Parallel zur Messe Sensor+Test in Nürnberg vom 06.05.-08.05.2025 findet die 3. Sensor and Measurement Science International (SMSI) Konferenz im KongressCenter Nürnberg statt. Das CiS Forschungsinstitut ist mit 9 wissenschaftlichen Beiträgen vertreten.
Vom 6.-8. Mai 2025 stellt das CiS Forschungsinstitut sein aktuelles Portfolio auf der Sensor+Test in Nürnberg vor. Interessierte Besucher finden uns in Halle 1 an unserem Stand 501 im Messezentrum Nürnberg. Informationen zu unseren Highlights auf dem Gebiet der siliziumbasierten Sensorik für kundenspezifische Entwicklungen und Anwendungen finden Sie zum Download und Nachlesen
Vom 31. März bis zum 4. April 2025 präsentiert das CiS Forschungsinstitut sein Technologieportfolio im Rahmen der #hmi25. In Halle 6 auf dem Thüringer Gemeinschaftsstand der LEG (Stand F61) stellen unsere Experten siliziumbasierte MEMS- und MOEMS-Sensorkonzepte für vielseitige Anwendungen vor
Im Projekt PoRr entwickelte ein Wissenschaftsteam des CiS Forschungsinstitutes Photodioden mit deutlich reduzierter Rückreflexion. Mittels spezieller Oberflächenstrukturierung werden die Reflexionen um 15% herabgesetzt. Eigens entwickelte Messplätze ermöglichen die Erfassung der Anteile der Gesamtreflexion bei verschiedenen Wellenlängen sowie die Erfassung der Winkelverteilung des reflektierten Lichtes bei verschiedenen Einfallswinkeln
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