In dem abgeschlossenen Forschungsprojekt wurde ein neuer optischer Sensor zur hochgenauen Bestimmung von Brechzahländerungen entwickelt. Das Messprinzip beruht nach Laseranregung auf der Korrelation von Speckle-Mustern, welche mithilfe von Bildsensoren erfasst werden
Im internationalen Jahr der Quantenwissenschaft und Quantentechnologien richten wir unseren diesjährigen MOEMS-Workshop auf das Thema „Key Technologies for Photonic Quantum Systems“ aus. Experten aus der Wissenschaft, angewandten Forschung und Industrie finden hier eine Plattform für den Austausch und neue Kooperationen
Unter dem Motto „Digitaler Zwilling in eine zukunftsfähige Produktion“ trafen sich am 27. August 2025 Vertreter aus Wirtschaft, Forschung und Politik im Comcenter Brühl zum 17. Erfurter TechnologieDialog.
In der begleitenden Ausstellung präsentiert das CiS Forschungsinstitut einen Teil seines Forschungs- und Leistungsportfolios sowie Ergebnisse aus dem Forschungsprojekt FIRE
Im abgeschlossenen Forschungsvorhaben IJP-IR wurden alternative Prozesse auf Basis der Inkjet-Technologie und galvanischer Abscheidung für die Herstellung von IR-Emittern untersucht. Der neue Prozess reduziert Lithographie- und Hochvakuum-Schritte auf ein Minimum und erweitert die Materialauswahl für CMOS-kompatible Systeme
Das neue ZIM-Projekt IR-Batch legt den Fokus auf die Entwicklung neuer Montagetechnologien von Infrarot- Komponenten auf Basis polymerfreier Fügetechnologien für den Einsatz bei hohen Temperaturen und extremen Umgebungsbedingungen. Das CiS Forschungsinstitut ist für die Technologienentwicklung verantwortlich
Von der zentralen Idee, mehrere kleine und damit schnelle aktive Flächen in einem Chip zu integrieren, konnten anfangs durch hybride Integration von einzelnen, sehr kleinen (1×1 mm²) Chips schließlich in Varianten von monolithisch integrierten Arrays überführt werden
Mit der International Superconductive Electronics Conference (ISEC) startete am Montag die alle zwei Jahre stattfindende wissenschaftliche Konferenz in Erfurt, welche weltweite Experten auf dem Gebiet der supraleitenden Elektronik in einem Forum zusammenbringt. Bis Donnerstag gastiert die internationale Veranstaltungsreihe im Radisson Blu Hotel Erfurt und deckt zentrale Zukunftsthemen ab, etwa Quantencomputer sowie energieeffiziente Elektronik, und bietet Forum für Innovationen in Wissenschaft und Industrie
Ab morgen wird das CiS Forschungsinstitut erstmalig auf der EPHJ, einer internationalen Fachmesse für Hochpräzision in Genf sein Portfolio vorstellen. Bis zum 6. Juni 2025 präsentieren wir am Stand J122 in den Hallen der Palexpo in Genf unsere siliziumbasierten Sensortechnologien und Kompetenzen im Bereich MEMS sowie MOEMS einem internationalen Fachpublikum
Beim Besuch von Studierenden der KOMET (Konferenz der Medizintechnik-Fachschaften aus dem deutschsprachigen Raum) am 26.05.2025 konnten diese einen kleinen Einblick in unsere faszinierende Welt der Mikrosensorik werfen. Geschäftsfeldleiter MEMS, Dr. Klaus Ettrich, stellte ein ausgewähltes Spektrum der Sensorentwicklung für medizinische Anwendungen vor. Für Begeisterung und Praxisnähe sorgte Dr. Bernd Hähnlein am Rasterelektronenmikroskop des CiS Analytik Kompetenzzentrums mit feinsten Strukturen, die für bloße Augen unsichtbar sind
Parallel zur Messe Sensor+Test in Nürnberg vom 06.05.-08.05.2025 findet die 3. Sensor and Measurement Science International (SMSI) Konferenz im KongressCenter Nürnberg statt. Das CiS Forschungsinstitut ist mit 9 wissenschaftlichen Beiträgen vertreten.
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