Auf Basis einer pulssensitiven Elektronik konnten im F&E-Projekt SiDo biokompatible, implantierbare Siliziumdosimeter für die Strahlentherapie im CiS Forschungsinstitut entwickelt werden. Auf dieser Technologie basierte In-Vivo-Dosimeter können die Strahlenbelastung in unmittelbarer Nähe eines Karzinoms während einer Strahlentherapie messen
Kommende Woche findet die COMPAMED vom 14. bis 17. November 2022 in Düsseldorf statt. Das CiS Forschungsinstitut ist mit einem Messestand (H23.4) in Halle 8A am Gemeinschaftsstand des IVAM vertreten. Außerdem wird Dr. Martin Schädel, Geschäftsfeldleiter MOEMS, im Rahmen des COMPAMED HIGH-TECH FORUM in seinem Vortrag über „Silicon-based Microsensors for Medical & Health Care Applications“ berichten
Gestern fand bereits zum dritten Mal ein CiS Workshop zum Thema „NDIR Sensoren und Komponenten“ in Erfurt statt. In zwei Sessions gab es Einblicke in aktuelle Forschungsprojekte zu IR-Strahler und IR-Detektoren, frische Ideen wurden geboren und neue Kontakte geknüpft
Das Ziel des aktuellen F&E Projekts Neuer Brechzahlsensor (BZS) besteht in der Entwicklung eines neuartigen kompakten Sensors zur hochgenauen relativen Messung des Brechungsindex von Flüssigkeiten innerhalb einer Durchflusszelle oder einer Küvette
Im Rahmen der Festveranstaltung zum 30-jährigen Jubiläum des Aeroclub Arnstadt e.V. im Hangar des Flugplatzes Alkersleben hielt Dr. Martin Schädel, Geschäftsfeldleiter MOEMS am CiS Forschungsinstitut, einen Gastvortrag zum Thema „Erfassung wichtiger Vital-Parameter mit Lichtsensor im Ohr“
Am 15.09. stellt das CiS Forschungsinstitut auf der Begleitmesse zum Thüringer Forum Mobilität auf dem Campus der TU Ilmenau seine Kompetenzen für eine vernetzte und intelligente Infrastruktur vor. Siliziumbasierte Sensoren zur Konzentrationsmessung von Wasserstoff, Sensoren für die CO2-Messung im Atemgas und Innenräumen oder auch spezielle Lichteinfallsensor werden am Stand A8 gezeigt
Das gestartete Forschungsprojekt StraMiFa am CiS Forschungsinstitut zielt auf die Erhöhung des Emissionsgrades bei MEMS-basierten Standard-IR-Strahlern mittels Backend-Beschichtungsprozess. Die Performance soll dabei gesteigert und Herstellungskosten gesenkt werden
In der Auftaktveranstaltung am 06.09.2022 zur neuen Digital-Reihe „Spotlights der Mikro- und Nanotechnologie“, initiiert vom IVAM Fachverband für Mikrotechnik, präsentiert unter anderem Dr. Martin Schädel, Geschäftsfeldleiter MOEMS am CiS Forschungsinstitut, das Thema „Siliziumsensoren für optische Prozessüberwachung“
Für Infrarot-Strahler mit Schwarzkörpereigenschaften entwickelte das CiS Forschungsinstitut ein vereinfachtes Herstellungsverfahren. Es erzeugt eine leistungssteigernde Mikro-Textur. Dazu wurde das Patent PCT/EP2018/083263 erteilt
In dem neu eröffneten Forschungsprojekt werden IR-Emitterarrays entwickelt und charakterisiert, die sich durch eine hohe Dynamik bei gleichzeitig großer Strahlstärke auszeichnen
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