Das Institut für Mikro- und Nanotechnologien der Technischen Universität Ilmenau veranstaltet regelmäßig das IMN-Kolloquium, in dessen Rahmen laufende Forschungsarbeiten vorgestellt sowie der offene Austausch und Diskurs gefördert wird. Am Mittwoch, den 15. Juni 2022 um 13:00 Uhr sind Prof. Thomas Ortlepp und Dr. Kevin Lauer Vortragende beim IMN-Kolloquium in Ilmenau.
Im Vortrag „Competence in Silicon – sensor technology and solid state analytics“ geben sie einen Überblick unseres technischen Potentials und stellen einige ausgewählte Entwicklungsthemen vor, wie z.B. transparente Silizium-Photodioden, Low-Gain-Avalanche-Photodioden, komplexe MEMS-Multiwafer-Technologien sowie Beiträge zur Systemintegration in der Quantentechnologie. Zusätzlich zur mehr als 25-jährigen Erfahrung in der industriellen Sensorforschung bietet das CiS Forschungsinstitut auch ein breites Spektrum an Festkörperanalysemethoden an. Um innovative Technologien zu verstehen, zu kontrollieren und zu optimieren, ist der Einsatz von Nano- und Oberflächenanalytik unerlässlich. Insbesondere dann, wenn Fragen der Qualitätskontrolle, der Fehlersuche oder der Umweltverträglichkeit auftreten. Es werden die Analysetools und -methoden vorgestellt und die wichtigsten Kennzahlen erläutert.
Weitere Infos zur Veranstaltung finden Sie hier:
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