CiS
  • Forschungsinstitut
    • Profil
    • Zertifizierung
    • Netzwerk
    • Downloads
  • Kompetenzen
    • Technologien
    • Simulation & Design
    • Prozessentwicklung
    • Waferprozessierung
    • Aufbau- & Verbindungstechnik
    • Messtechnik & Analytik
    • CAK – CiS Analytik Kompetenzzentrum
    • Prototyping & Kleinserien
  • F&E
    • Mikrosensoren für die Welt von morgen
    • MEMS
    • MOEMS
    • Öffentliche Forschung
    • Förderung
    • Industrieprojekte
  • Märkte
    • Anwendungen
    • Prozessmesstechnik
    • Energie
    • Mobility
    • Gesundheit
    • Klima
    • Infrarotsensorik
  • Karriere
    • Arbeiten im Forschungsumfeld
    • Mitarbeitende
    • Studierende
    • Ausbildung
    • Datenschutz bei Bewerbungen
  • Aktuelles
    • News
    • Termine
    • Publikationen & Konferenzen
  • CiS e.V.
    • Verein
    • Satzung (PDF)
    • Vorstand
    • Kontakt zum CiS e.V.
    • Datenschutzhinweise CiS e.V.
  • Kontakt
    • Ansprechpartner
    • Anfahrt
    • Impressum
    • Datenschutz
  • English
  • Click to open the search input field Click to open the search input field Suche
  • Menü Menü

Schlagwortarchiv für: DefEin

Sie sind hier: Startseite1 / DefEin

Beiträge

Projektabschluss: DefEin – Si-Detektoren mit flachem Eintrittsfenster

4. November 2022/in Messtechnik, UV

Im erfolgreich abgeschlossenen Projekt DefEin wurden Dotiertechnologien entwickelt, die eine hohe Energieauflösung von aus Silizium bestehenden Strahlungssensoren ermöglichen, indem die hochdotierten Gebiete auf der Eintrittsseite der zu detektierenden Strahlung möglichst flach gehalten werden.

Weiterlesen
https://www.cismst.de/wp-content/uploads/news-2022-11-04-home.jpg 90 120 CiS https://www.cismst.de/wp-content/uploads/logo-trans.png CiS2022-11-04 14:12:482022-11-04 14:15:23Projektabschluss: DefEin – Si-Detektoren mit flachem Eintrittsfenster
  • News
  • Termine
  • Publikationen & Konferenzen
  • Projektstart EiS: Entwicklung innovativer Schichtstapel MEMS-IR-Emitter

    18. März 2026
  • Stressunabhängige On-Chip-Temperaturerfassung (SOT)

    11. März 2026
  • Industrienahe Forschungsergebnisse auf den Frühjahrstagungen der DPG

    5. März 2026
  • Projektabschluss Si-Heat Flux Sensor: ein neuartiger Wärmestromsensor

    25. Februar 2026
  • Messepremiere auf Deutschlands Leitmesse für Sicherheit und Verteidigung

    19. Februar 2026

Kategorien

  • Analytik (21)
  • Automotive (11)
  • AVT (62)
  • CiS allgemein (32)
  • Digitalisierung (1)
  • Druck (70)
  • Energie (20)
  • Hochtemperatur (1)
  • Invest (1)
  • IR (41)
  • Jobs (4)
  • Kraft (48)
  • Medizintechnik (86)
  • MEMS (182)
  • Messtechnik (25)
  • MOEMS (180)
  • Personalie (10)
  • Photonik (24)
  • Politik (24)
  • Prozessentwicklung (5)
  • Quanten (39)
  • Siliziumdetektoren (21)
  • Simulation & Design (25)
  • Temperatur (1)
  • UV (28)
  • Veranstaltungen (215)
  • Waferprozessierung (16)
  • Wasserstoff (14)

Archiv

Vom Design zum Prototyping.
Zuverlässig. Langzeitstabil. Präzise.

Konrad-Zuse-Str. 14
99099 Erfurt
Deutschland

Tel.: +49 361 663 1410
E-Mail: info@cismst.de

© 2026 CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH
  • Startseite
  • English
  • Impressum
  • Datenschutz
  • AGB
  • Sitemap
Nach oben scrollen Nach oben scrollen Nach oben scrollen