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Mit dünnen Pixel-Strahlungsdetektoren nahe am Kollisionspunkt

29. April 2016/in Siliziumdetektoren, Waferprozessierung

Das CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik hat großflächige Strahlungsdetektoren entwickelt, deren sensitiver Bereich bis auf die Dicke eines normalen Papierblattes abgedünnt ist. Bei der Prozessierung konnte auf die Verwendung von zusätzlichen Handling-Wafern, wie heute noch in der industriellen Fertigung gängige Praxis, verzichtet werden

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https://www.cismst.de/wp-content/uploads/news-2016-04-29-home.jpg 90 120 CiS https://www.cismst.de/wp-content/uploads/logo-trans.png CiS2016-04-29 10:45:002024-09-04 10:52:52Mit dünnen Pixel-Strahlungsdetektoren nahe am Kollisionspunkt
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