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Archiv für die Kategorie: AVT

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3D-Silizium-Fotodiode mit PigTail

18. Mai 2012/in AVT, MOEMS, Waferprozessierung

Die 3D-Strukturierung von Silizium gewinnt für optische und opto-elektronische Anwendungen der Mikrosystemtechnik immer mehr an Bedeutung. Für die zuverlässige und verlustarme Ankopplung von Lichtleitfasern an Fotodioden entwickelte das CiS Forschungsinstitut neue Mikrostrukturierungstechnologien zur Herstellung von Kavitäten mit Flankenwinkeln von 45° und 90° und hoher optischer Absorption der sensitiven Einkoppelfläche

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https://www.cismst.de/wp-content/uploads/news-2012-05-18-home.jpg 90 120 CiS https://www.cismst.de/wp-content/uploads/logo-trans.png CiS2012-05-18 12:55:002021-02-23 13:22:523D-Silizium-Fotodiode mit PigTail

Optoelektronischer Sensor sorgt für zuverlässige Kältetechnik

13. Mai 2012/in AVT, MEMS, MOEMS

Auf Basis spezieller Chip- und Montagetechnologien aus dem CiS Forschungsinstitut hat die ILK Institut für Luft- und Kältetechnik gGmbH, Dresden ein kostengünstiges Multiparameter-System zur kontinuierlichen Überwachung von Feuchte, Blasenbildung, Temperatur und Füllstand in Kältemittelanlagen entwickelt.

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https://www.cismst.de/wp-content/uploads/news-2012-05-13-home.jpg 90 120 CiS https://www.cismst.de/wp-content/uploads/logo-trans.png CiS2012-05-13 13:54:002021-02-23 14:00:51Optoelektronischer Sensor sorgt für zuverlässige Kältetechnik
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