CiS
  • Forschungsinstitut
    • Profil
    • Zertifizierung
    • Netzwerk
    • Downloads
  • Kompetenzen
    • Technologien
    • Simulation & Design
    • Prozessentwicklung
    • Waferprozessierung
    • Aufbau- & Verbindungstechnik
    • Messtechnik & Analytik
    • CAK – CiS Analytik Kompetenzzentrum
    • Prototyping & Kleinserien
  • F&E
    • Mikrosensoren für die Welt von morgen
    • MEMS
    • MOEMS
    • Öffentliche Forschung
    • Förderung
    • Industrieprojekte
  • Märkte
    • Anwendungen
    • Prozessmesstechnik
    • Energie
    • Mobility
    • Gesundheit
    • Klima
    • Infrarotsensorik
  • Karriere
    • Arbeiten im Forschungsumfeld
    • Mitarbeitende
    • Studierende
    • Ausbildung
    • Datenschutz bei Bewerbungen
  • Aktuelles
    • News
    • Termine
    • Publikationen & Konferenzen
  • CiS e.V.
    • Verein
    • Satzung (PDF)
    • Vorstand
    • Kontakt zum CiS e.V.
    • Datenschutzhinweise CiS e.V.
  • Kontakt
    • Ansprechpartner
    • Anfahrt
    • Impressum
    • Datenschutz
  • English
  • Click to open the search input field Click to open the search input field Suche
  • Menü Menü

Schlagwortarchiv für: Hivos

Sie sind hier: Startseite1 / Hivos

Beiträge

Hybrid integrierte optische Sensoren auf Basis vorstrukturierter Adhäsivschichten

19. Juli 2023/in AVT, MOEMS, Prozessentwicklung

Das Projekt „Hivos“ folgt dem Ansinnen der Industrie und strebt eine höhere Automatisierung durch Abscheiden und Strukturieren von Klebstoffbeschichtungen auf Waferebene und der damit verbundenen verbesserten Montagegenauigkeit an. Innovative Materialien und Prozesse sollen zudem die Wertschöpfung auf Wafer-/Nutzenlevel erhöhen

Weiterlesen
https://www.cismst.de/wp-content/uploads/news-2023-07-19-home.jpg 90 120 CiS https://www.cismst.de/wp-content/uploads/logo-trans.png CiS2023-07-19 07:00:322023-07-10 14:29:24Hybrid integrierte optische Sensoren auf Basis vorstrukturierter Adhäsivschichten
  • News
  • Termine
  • Publikationen & Konferenzen
  • Stressunabhängige On-Chip-Temperaturerfassung (SOT)

    11. März 2026
  • Industrienahe Forschungsergebnisse auf den Frühjahrstagungen der DPG

    5. März 2026
  • Projektabschluss Si-Heat Flux Sensor: ein neuartiger Wärmestromsensor

    25. Februar 2026
  • Messepremiere auf Deutschlands Leitmesse für Sicherheit und Verteidigung

    19. Februar 2026
  • Vortrag auf dem 21st „Trento“ Workshop on Advanced Silicon Radiation Detectors

    12. Februar 2026

Kategorien

  • Analytik (21)
  • Automotive (11)
  • AVT (62)
  • CiS allgemein (32)
  • Digitalisierung (1)
  • Druck (70)
  • Energie (20)
  • Hochtemperatur (1)
  • Invest (1)
  • IR (40)
  • Jobs (4)
  • Kraft (48)
  • Medizintechnik (86)
  • MEMS (182)
  • Messtechnik (25)
  • MOEMS (179)
  • Personalie (10)
  • Photonik (24)
  • Politik (24)
  • Prozessentwicklung (5)
  • Quanten (39)
  • Siliziumdetektoren (21)
  • Simulation & Design (25)
  • Temperatur (1)
  • UV (28)
  • Veranstaltungen (215)
  • Waferprozessierung (16)
  • Wasserstoff (14)

Archiv

Vom Design zum Prototyping.
Zuverlässig. Langzeitstabil. Präzise.

Konrad-Zuse-Str. 14
99099 Erfurt
Deutschland

Tel.: +49 361 663 1410
E-Mail: info@cismst.de

© 2026 CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH
  • Startseite
  • English
  • Impressum
  • Datenschutz
  • AGB
  • Sitemap
Nach oben scrollen Nach oben scrollen Nach oben scrollen