Parallel zur Messe Sensor+Test in Nürnberg vom 06.05.-08.05.2025 findet die 3. Sensor and Measurement Science International (SMSI) Konferenz im KongressCenter Nürnberg statt. Diese begleitende Konferenz der Messe schafft eine einzigartige Verbindung zwischen Wissenschaft und Industrie und legt den Fokus auf zukünftige Entwicklungen in Sensorik, Messtechnik und Metrologie. Das CiS Forschungsinstitut ist mit 9 wissenschaftlichen Beiträgen vertreten.
Den Auftakt bildet der Beitrag „Fast MEMS-IR-Emitters for NDIR Sensors“ von Toni Schildhauer. Sein Vortrag erklärt die Fertigung von IR-Emittern auf Basis einer MEMS-Hotplate-Technologie, die eine Grenzfrequenz von über 100 Hz besitzen und damit den Anforderungen innovativer Gassensorik im Wellenlängen-Bereich von 2 bis 20 µm genügen. Die Session D3 „IR and Temperature Measurement“ findet im Raum Zürich statt. Der Vortrag beginnt 11:20 Uhr, am Mittwoch dem 07.05.2025.
Am Nachmittag reflektiert Prof. Ortlepp, Geschäftsführer des CiS Forschungsinstitutes, in der Session „B4 Optical Sensor Systems“ Ergebnisse der Forschungsarbeiten zur Thematik „Low-Noise Silicon APD with Enhanced Blue-Violet Sensitivity“. Zur Detektion des Fluoreszenzlichtes wurden hochempfindliche rauscharme Blauviolett Avalanche Photodioden mit sehr geringem Rauschen entwickelt. Die entwickelten BVAPDs mit moderaten elektrischen Betriebsspannungen (um 210 – 220 V) sind für den Spektralbereich von ca. 300 nm bis 550 nm (Maximum um 400 nm) geeignet und erreichen einen internen Verstärkungsfaktor deutlich über 100. Der Vortrag findet im Raum Amsterdam um 14:50 Uhr, am Mittwoch dem 07.05.2025, statt.
In der Postersession am 07.05.2025, von 15:30-17:00 Uhr können Sie weitere innovative Entwicklungen aus unserem Haus kennenlernen:
Julia Baldauf erläutert in zwei Postern P17 und P18 Elektromigrationsphänomene in Molybdändisilizid (MoSi2). Unter Elektromigration versteht man einen stromgetriebenen Materialtransport in einem elektrischen Leiter. Gezeigt werden die Auswirkung der Länge der Teststruktur auf die Elektromigration von Aluminium in gekapselten MoSi2-Schichten, sowie Änderungen der Schichtzusammensetzung von amorphen Schichten mit einem anfänglichen Atomverhältnis von 1Mo zu 2 Si durch eine Bestromung.
Dr. Thomas Frank, Fachbereichsleiter im Geschäftsfeld MEMS, erläutert in den Postern P23 und P24 Ergebnisse der Forschungsprojekte „Zugraftsensor zur Überwachung der Riemenspannung“ in Transmissionsriemen sowie den Aufbau eines „Nachrüstsatzes zur eingriffsfreien Druckmessung in Prozessrohren“. Beide Aufbauten können am Stand des CiS Forschungsinstitutes 501/ in Halle 1 besichtigt werden.
Das Poster P22 adressiert ein neues pneumatisches Messprinzip für Härteprüfungen. Es kombiniert Kraft- und Drucksensoren zur präzisen Regulierung des Kraftanstiegs beim Aufprall und deckt einen breiten Lastbereich von 1 gf bis 100 kgf ab und reduziert Seitenkräfte durch automatische Fokussierung.
Mit dem Poster P21 wird die Entwicklung sehr flacher 3D-Kraftsensoren inkl. Auswertungselektronik und passender Softwarelösungen für ein neues taktiles Greifsystem mit innovativer kraftrückgekoppelter Steuerung zum Einsatz in Entschärfungsrobotern vorgestellt.
Dr. Christian Möller, erörtert mit seinem Poster P25 die Membrancharakterisierung von semi-transparenten Photodioden als Detektoren in Stehende-Welle-Interferometern. Die Membran (photoaktive Schicht) der Detektoren ist dünner als 1 Mikrometer und wird mittels weiterer Schichten optisch entspiegelt und dadurch mechanisch verformt. Im Beitrag wird der Einfluss verschiedener Technologievarianten auf diese Verformung dargestellt.
Die beschriebenen Forschungs- und Entwicklungsarbeiten wurden in Forschungsprojekten durch das Bundesministerium für Wirtschaft und Klimaschutz (BMWK) gefördert.
